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    檢測項(xiàng)目
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    檢測項(xiàng)目

    聚焦離子束分析(FIB)
    1、聚焦離子束技術(shù)(FIB)聚焦離子束技術(shù)(Focused Ion beam,F(xiàn)IB)是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺...
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    X射線光電子能譜分析(XPS)
    1. X射線光電子能譜技術(shù)X射線光電子能譜技術(shù)(X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱X...
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    動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜分析(D-SIMS)
    1. 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)二次離子質(zhì)譜技術(shù)(Dynamic Secondary Ion Mass Spectrome...
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    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)
    1. 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)(Time of Flight Secondary Ion Mas...
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    俄歇電子能譜分析(AES)
    1.俄歇電子能譜技術(shù)(AES)俄歇電子能譜技術(shù)(Auger electron spectroscopy,簡稱AES),是...
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    配方分析
    配方分析是從樣品的分析需求出發(fā),系統(tǒng)考慮采取不同物理、化學(xué)的分離提純的技術(shù)和方法將樣品中的各個(gè)組分分離開并進(jìn)行純化,然后...
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