• <progress id="z1fte"></progress>

    1. <progress id="z1fte"></progress>
    2. 搜索
      搜索
      當前位置:
      首頁
      >

      檢測項目

      1item03
      1item03

      有機異物分析

      有機異物分析是指針對產品表面的有機異物,根據異物的形態、檢測深度及檢測面積等差異而選用特定的儀器,對其有機成分進行分析,判定其主成分,從而獲取異物信息的一種分析方法。有機異物在放大觀察下常常表現出較為
      所屬分類
      成分分析
      產品描述

      有機異物分析是指針對產品表面的有機異物,根據異物的形態、檢測深度及檢測面積等差異而選用特定的儀器,對其有機成分進行分析,判定其主成分,從而獲取異物信息的一種分析方法。有機異物在放大觀察下常常表現出較為透明且性軟等特點。目前有機異物的分析手段主要有以下幾種:

      分析手段典型應用分析特點參考標準
      紅外光譜FTIR有機物定性;有機污染物分析能進行微區分析,其顯微鏡測量孔徑可到8mm或更小,可方便地根據需要選擇樣品不同部分進行分析GB/T 6040-2002
      飛行時間二次離子質譜TOF-SIMS有機材料和無機材料的表面微量分析;表面離子成像;深度剖面分析優異的摻雜劑和雜質檢測靈敏度,可以檢測到ppm或更低的濃度;深度剖析具有良好的檢測限制和深度辨析率;小面積分析ASTM E1078-2009 ASTM E1504-2011 ASTM E1829-2009
      動態二次離子質譜D-SIMS產品表面微小的異物分析;氧化膜厚度分析;摻雜元素的含量測定分析區域小,能分析&ge;10&mu;m直徑的異物成分;分析深度淺,可測量&ge;1nm樣品;檢出限高,一般是ppm~ppb級別ASTM E1078-2009 ASTM E1504-2011 ASTM E1829-2009


      案例分析
      案件背景:

      某客戶產品Switching power使用過程中發現接觸不良現象,放大觀察后發現其電源插孔內部發現大量固體顆粒物,懷疑由其引起電源插孔接觸不良。

      檢測手段:

      FTIR分析

      檢測標準:

      GB/T 6040-2002 紅外光譜分析方法通則 

      分析方法簡介:

      1、通過顯微鏡放大觀察發現電源插孔內部表面存在異常顆粒狀物質,見下圖:


      76e1ba5ebc9fd4a889d4179e6c5b9e24_22b7b5a0-abcf-4290-80c8-045ec826e20a.png


      2、在顯微鏡通過特殊取樣工具取出電源插孔內部表面異物,并使用FTIR對其成分進行分析,判定其有機主成分:

      34603d89c4eed21600562f8458a0360e_4f56972d-c308-4a05-ba73-891071e4e212.png

      3、對其紅外光譜進行解析,根據其分子結構特征,結合標準紅外圖譜可知,該物質有機主成分為松香。

      相關檢測

      Copyright? 2021  蘇州天標檢測技術有限公司  版權所有   蘇ICP備15049334號-3

      Copyright? 2021  蘇州天標檢測技術有限公司  版權所有

      蘇ICP備15049334號-33    蘇州