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      防塵防水試驗(yàn)的一些常識(shí)

      防塵防水試驗(yàn)的一些常識(shí)

      【概要描述】防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為防水實(shí)驗(yàn)用于檢查保護(hù)罩、外殼和密封墊防止水滲入產(chǎn)品的有效性；檢查產(chǎn)品在暴露于水時(shí)和暴露后滿(mǎn)足其性能要求的能力；檢查雨水對(duì)產(chǎn)品造成的任何物理?yè)p壞；檢查任何除水裝置和包裝的有效性。防水試驗(yàn)可以提供電子產(chǎn)品及其部件在運(yùn)輸和使用過(guò)程中可能受到的各種環(huán)境如噴水和噴霧試驗(yàn)的逼真模擬。從而測(cè)試各種產(chǎn)品的防水性能。

      防塵防水試驗(yàn)的一些常識(shí)

      【概要描述】防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為防水實(shí)驗(yàn)用于檢查保護(hù)罩、外殼和密封墊防止水滲入產(chǎn)品的有效性；檢查產(chǎn)品在暴露于水時(shí)和暴露后滿(mǎn)足其性能要求的能力；檢查雨水對(duì)產(chǎn)品造成的任何物理?yè)p壞；檢查任何除水裝置和包裝的有效性。防水試驗(yàn)可以提供電子產(chǎn)品及其部件在運(yùn)輸和使用過(guò)程中可能受到的各種環(huán)境如噴水和噴霧試驗(yàn)的逼真模擬。從而測(cè)試各種產(chǎn)品的防水性能。

      詳情

      　　防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為防水實(shí)驗(yàn)用于檢查保護(hù)罩、外殼和密封墊防止水滲入產(chǎn)品的有效性；檢查產(chǎn)品在暴露于水時(shí)和暴露后滿(mǎn)足其性能要求的能力；檢查雨水對(duì)產(chǎn)品造成的任何物理?yè)p壞；檢查任何除水裝置和包裝的有效性。防水試驗(yàn)可以提供電子產(chǎn)品及其部件在運(yùn)輸和使用過(guò)程中可能受到的各種環(huán)境如噴水和噴霧試驗(yàn)的逼真模擬。從而測(cè)試各種產(chǎn)品的防水性能。

      防塵防水試驗(yàn)

      　　防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為根據(jù)水對(duì)產(chǎn)品作用方式的不同，目前防水測(cè)試有多種不同的測(cè)試方法，如淋雨測(cè)試、滴水測(cè)試、沖洗測(cè)試、浸泡測(cè)試、外殼保護(hù)等。不同的標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)不同的測(cè)試目的和測(cè)試對(duì)象對(duì)防水測(cè)試提出了不同的要求。


      　　防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為GB/T  2423.38(IEC60068-2-18)將防水試驗(yàn)方法分為三組，即滴水Ra、沖洗Rb和浸泡Rc，其中滴水Ra又可分為人工淋雨法Ral和滴水槽法Ra2(對(duì)應(yīng)IPX1和IPX2)，沖洗Rb法Rb1(包括擺管法Rb1.1和噴淋法(手持噴頭法)Rb1.2)。


      　　防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為GB4208(IEC  60529)使用IP代碼表示產(chǎn)品外殼提供的防護(hù)等級(jí)。適用于額定電壓小于72.5kV且受外殼保護(hù)的電氣設(shè)備，用于評(píng)定產(chǎn)品外殼提供的防護(hù)等級(jí)。IP代碼的配置包括防護(hù)等級(jí)、測(cè)試方法等。


      　　防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為防水測(cè)試結(jié)果直接影響產(chǎn)品的防護(hù)性能。產(chǎn)品防水性能好，意味著產(chǎn)品整體結(jié)構(gòu)和密封性好。這類(lèi)產(chǎn)品在日常使用中，在雨水或?yàn)R水的侵蝕下，能保證內(nèi)部元器件的安 全和功能的正常使用。


      　　防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為防塵試驗(yàn)主要是利用人工模擬粉塵環(huán)境來(lái)測(cè)試測(cè)試產(chǎn)品的防塵能力。主要用于電子電器產(chǎn)品、燈具、電氣柜、電器元件、汽車(chē)、摩托車(chē)及其零部件的防塵測(cè)試。


      　　防塵防水試驗(yàn)廠家認(rèn)為一般來(lái)說(shuō)，電子芯片是裝在產(chǎn)品的外殼里的，很少受到灰塵的影響，但是一些例外的情況，比如外殼損壞導(dǎo)致的灰塵侵入，會(huì)影響電子芯片的正常工作。還有，就像電腦主機(jī)殼一樣，外殼有散熱孔，也會(huì)導(dǎo)致灰塵的侵入。所以我們每次打開(kāi)外殼都會(huì)發(fā)現(xiàn)主板上到處都是灰塵，也會(huì)影響主機(jī)的正常運(yùn)行。因此，防塵試驗(yàn)箱可以模擬各種灰塵侵入場(chǎng)景，通過(guò)對(duì)電子芯片進(jìn)行防塵測(cè)試，可以很好的發(fā)現(xiàn)電子芯片的設(shè)計(jì)保護(hù)缺陷。


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